Микрометры для ступеней калибровочные шкалы сетки
Описание продукта
Микрометры для предметных столиков, калибровочные линейки и сетки обычно используются в микроскопии и других приложениях визуализации для предоставления стандартных эталонных шкал для измерения и калибровки. Эти устройства обычно размещаются непосредственно на предметном столике микроскопа и используются для характеристики увеличения и оптических свойств системы.
Микрометр для предметного столика — это небольшое предметное стекло, содержащее сетку из точно нанесенных линий с известным интервалом. Сетки часто используются для калибровки увеличения микроскопов, чтобы обеспечить точные измерения размеров и расстояний образцов.
Калибровочные линейки и сетки похожи на микрометры для столиков тем, что содержат сетку или другой рисунок из точно очерченных линий. Однако они могут быть изготовлены из других материалов, таких как металл или пластик, и различаться по размеру и форме.
Эти калибровочные устройства имеют решающее значение для точного измерения образцов под микроскопом. Используя известную эталонную шкалу, исследователи могут гарантировать точность и надежность своих измерений. Они широко используются в таких областях, как биология, материаловедение и электроника, для измерения размера, формы и других свойств образцов.
Представляем калибровочные шкалы для микрометров для столиков — инновационное и надежное решение для обеспечения точных измерений в самых разных отраслях. Благодаря широкому спектру применения этот невероятно универсальный продукт обеспечивает непревзойденную точность и удобство, что делает его незаменимым инструментом для профессионалов в таких областях, как микроскопия, визуализация и биология.
В основе системы лежит микрометр столика, который обеспечивает градуированные опорные точки для калибровки измерительных приборов, таких как микроскопы и камеры. Эти прочные, высококачественные микрометры выпускаются в различных размерах и стилях для удовлетворения потребностей различных отраслей промышленности, от простых однолинейных шкал до сложных сеток с несколькими крестами и окружностями. Все микрометры имеют лазерную гравировку для точности и высококонтрастный дизайн для простоты использования.
Еще одной ключевой особенностью системы является калибровочная шкала. Эти тщательно изготовленные шкалы обеспечивают визуальный ориентир для измерений и являются важным инструментом для калибровки измерительного оборудования, такого как столики микроскопа и столики перемещения XY. Шкалы изготовлены из высококачественных материалов, что обеспечивает прочность и долговечность, и доступны в различных размерах для соответствия требованиям различных приложений.
Наконец, GRIDS обеспечивает важную точку отсчета для точных измерений. Эти сетки поставляются в различных узорах, от простых сеток до более сложных крестов и кругов, обеспечивая визуальный ориентир для точных измерений. Каждая сетка разработана для долговечности с высококонтрастным, лазерно-травленым узором для превосходной точности.
Одним из главных преимуществ системы STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS является ее удобство и универсальность. Благодаря выбору различных микрометров, шкал и сеток пользователи могут подобрать идеальную комбинацию для своего конкретного применения. Будь то в лаборатории, в полевых условиях или на заводе, система обеспечивает точность и надежность, требуемые профессионалами.
Так что если вы ищете надежное, высококачественное решение для ваших измерительных нужд, не ищите дальше, чем Stage Micrometer Calibration Ruler Grids. Благодаря своей исключительной точности, долговечности и удобству эта система наверняка станет ценным инструментом в вашем профессиональном арсенале.




Технические характеристики
Субстрат | Б270 |
Допуск размеров | -0,1мм |
Допуск толщины | ±0,05 мм |
Плоскостность поверхности | 3(1)@632.8нм |
Качество поверхности | 40/20 |
Ширина линии | 0,1 мм и 0,05 мм |
Края | Шлифованный, макс. 0,3 мм. Скос по всей ширине |
Чистая апертура | 90% |
Параллелизм | <45” |
Покрытие
| Непрозрачный хром высокой оптической плотности, Tabs<0,01%@Видимая длина волны |
Прозрачная область, AR R<0,35% при видимой длине волны |